профилометр - экономичный контроль размера любых объектов

Описание проекта

Потребность ювелирной промышленности в высокоточных измерительных приборах растет пропорционально мировым тенденциям в нано- и микротехнологиях, разработках оптических и электронных устройств высокой степени надежности и миниатюризации. Не всегда используемые сейчас метрологические инструменты позволяют производству вывести свою продукцию на конкурентоспособный уровень, тем самым реализовав в полной мере политику импортозамещения.

Современные производства испытывают потребность в высокоточном, автоматизированном и гибком, применительно к разным задачам, инструменте оценивания качества изготовления оптически гладких поверхностей. Такая поверхность – где на расстоянии равном длине волны светового излучения величина отклонения рельефа не превышает нескольких нанометров, должна соответствовать мировым стандартам качества и сейчас, при модернизации производственных мощностей, актуальным является разработка способа оценки рельефа таких поверхностей, а именно их шероховатости, в реальном масштабе времени, максимально автоматизировано и без непосредственного физического контакта с исследуемым образцом.

Профилометр позволяет производить указанный вид измерения (контроля качества поверхности) без непосредственного контакта с поверхностью, находясь на некотором отдалении, позволяет его вовсе не снимать с производственной линии, интегрируясь с оборудованием производства, автоматически сообщать об обнаружении отклонения заданного параметра шероховатости поверхности. Инновационность прибора состоит в применении особого типа световых лучей – лазерных оптических вихрей, чувствительных к малейшим отклонениям показателей отражающей поверхности, например, высоты рельефа, дальнейшая фотофиксация отклика которых позволяет численно рассчитать возникающее отклонение по изменению фазовых характеристик светового поля.

Модельный ряд устройств позволяет обеспечить решение широкого спектра прикладных задач как на производстве, так и в научно-технической сфере, требующей прецизионной микроскопии с разрешением до единиц нанометров, важных для таких индустрий как микросхемотехника, фотовольтаика, тонкопленочные покрытия, биофотоника и многие другие.

На устройство получен патент Российской федерации. данные Библиографические :

Пат. RU 178298 Российская Федерация, МПК G01B11/16. Профилометр / Соколенко Б.В., Полетаев Д.А.; патентообладатели Соколенко Б.В., Полетаев Д.А. - № 2017127853; заявл. 03.08.2017; публ. 29.03.2018, бюл. № 10.

С полным описанием можно ознакомиться на сайте Роспатента (на русском языке):

http://www1.fips.ru/fips_servl/fips_servlet?DB=RUPM&DocNumber=178298&TypeFile=html

http://ckb.bplaced.net/