Описание проекта
Цель проекта: заключается в разработке испытательного стенда цифровых измерительных модулей (ЦИМ). Данный стенд экономит время и деньги инженеров-испытателей за счет быстрого подключения к испытываемому модулю и автоматизации метрологических испытаний.
Задачи проекта: разработка аппаратно-программного автоматизированного комплекса метрологических испытаний цифровых измерительных модулей.
Ожидаемые результаты:
1. Плата для проведений метрологических испытаний и сбора выходных данных АЦП.
2. Специальное программное обеспечение, позволяющее конфигурировать разные типы АЦП, реализовать гистограммный метод испытания, снимать данные с АЦП, построить реальную функцию преобразования и вычислить по ней статические характеристики.
Области применения результатов:тестирование ЦИМ и АЦП.
Потенциальные потребительские сегменты: крупные производители микроэлектроники в России - АО «ПКК Миландр», АО «МЦСТ», АО «Микрон»,АО «Байкал Электроникс», АО НПЦ «ЭЛВИС», АО НТЦ «Модуль»
Продукт будет использовать гистограммный метод метрологического испытания при контроле ЦИМ и АЦП.
Определяемые статические характеристики:
1. Дифферинциальная нелинейность;
2. Интегральная нелинейность;
3. Аддитивная погрешность;
4. Мультипликативная погрешность;
5. Немонотонность.
Контроль могут проходить АЦП с количеством разрядов до 16 и частотой дискретизации до 400 кГц.
Поддерживаемые виды корпусов:
1. DIP (Dual In-line Package);
2. SOIC (Small Outlinr Integrated Circuit);
3. TQFP (Thin Quad Flat Package).
Диапазон входного аналогового напряжения составляет от -10 до 10 В.
Максимальное количество поддерживаемых выводов ЦИМ до 28.
